區(qū)別  

零部件的試驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試時(shí)，都是按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的，標(biāo)準(zhǔn)的擺放、標(biāo)準(zhǔn)的高度、標(biāo)準(zhǔn)的輸入輸出阻抗等等，這些標(biāo)準(zhǔn)是為了測(cè)試的一致性和準(zhǔn)確性的綜合，因此有很多地方和整車(chē)有較大的差異，比如零部件的電源線(xiàn)輸出阻抗、線(xiàn)束的長(zhǎng)度，這些都會(huì)對(duì)零部件測(cè)試結(jié)果造成巨大的影響。所以試驗(yàn)室環(huán)境下的零部件EMC性能可能和整車(chē)環(huán)境下有很大的差異。當(dāng)然標(biāo)準(zhǔn)制定者也不是吃素的，可以通過(guò)制定限值來(lái)盡量減小這種影響。比如BCI的測(cè)試，EUT的另一端使用的陪試設(shè)備和人工電源網(wǎng)絡(luò)的阻抗和EUT實(shí)際接入的阻抗可能有很大的差異。該差異會(huì)影響線(xiàn)束上的噪聲電流。但是如果我們測(cè)定最嚴(yán)酷阻抗下最大耦合電流作為BCI注入電流的參考，那么BCI的測(cè)試結(jié)果就能夠表明該件在整車(chē)環(huán)境下的EMC性能。

所以只要零部件滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求，在整車(chē)的環(huán)境下的EMC風(fēng)險(xiǎn)是非常小的。大部分零部件在整車(chē)測(cè)試時(shí)出現(xiàn)問(wèn)題，一是可能該零部件遭受到了比試驗(yàn)室環(huán)境下還要嚴(yán)酷的干擾，比如某件異常工作或特殊工況下產(chǎn)生的干擾；二是該件在零部件測(cè)試環(huán)境和整車(chē)環(huán)境有很大的差異，比如線(xiàn)束的長(zhǎng)度，甚至轉(zhuǎn)接，負(fù)載的差異、線(xiàn)束輸入輸出阻抗的差異（包括接地線(xiàn)）。三是零部件的差異，可能試驗(yàn)室做的整改措施沒(méi)有加入到量產(chǎn)件中。四是該件的EMC設(shè)計(jì)狀態(tài)和最初預(yù)想的存在差異，比如某處高壓屏蔽線(xiàn)的屏蔽層未滿(mǎn)足EMC設(shè)計(jì)要求等等。按照整車(chē)EMC工程師審核的測(cè)試計(jì)劃進(jìn)行測(cè)試并且pass的，應(yīng)該很少在整車(chē)上出現(xiàn)EMC問(wèn)題。

優(yōu)化    

最后